Programma

Durante il corso verranno presentate due tecniche di caratterizzazione delle proprietà superficiali della materia condensata: la Fotoemissione da raggi X e la Microscopia a Forza Atomica. Verrà inizialmente presentata in aula una introduzione teorica alle due tecniche sperimentali. Le lezioni frontali avranno come tema: microscopia ottica e microscopia a sonda; STM; AFM in contatto; AFM in non contatto; tecniche SPM secondarie; risoluzione e artefatti; analisi immagini SPM; vuoto e superfici; fondamenti di spettroscopia a raggi X; il modello a tre passi; sorgenti x; analizzatori di elettroni; rivelazione di elettroni; acquisizione ed analisi dati XPS. Successivamente verrà svolta l'attività di laboratorio vera e propria, che verrà condotta presso il Laboratorio di Fisica e Tecnologia dei Semiconduttori ed il laboratorio Lasec (laboratorio di spettroscopie elettroniche e di coincidenza)

Testi Adottati

-Dispense fornite dal docente basate sulle slide presentate a lezione
- Fondamenti di microscopia a scansione di sonda, V. L. Mironov, NT-MDT

Modalità Erogazione

Lezioni teoriche in classe e prove pratiche di laboratorio

Modalità Frequenza

La frequenza alle lezione teoriche è fortemente consigliata. La frequenza delle esercitazioni di laboratorio è obbligatoria

Modalità Valutazione

prova finale orale con compilazione di un quaderno di laboratorio

Programma

Durante il corso verranno presentate due tecniche di caratterizzazione delle proprietà superficiali della materia condensata: la Fotoemissione da raggi X e la Microscopia a Forza Atomica. Verrà inizialmente presentata in aula una introduzione teorica alle due tecniche sperimentali. Le lezioni frontali avranno come tema: microscopia ottica e microscopia a sonda; STM; AFM in contatto; AFM in non contatto; tecniche SPM secondarie; risoluzione e artefatti; analisi immagini SPM; vuoto e superfici; fondamenti di spettroscopia a raggi X; il modello a tre passi; sorgenti x; analizzatori di elettroni; rivelazione di elettroni; acquisizione ed analisi dati XPS. Successivamente verrà svolta l'attività di laboratorio vera e propria, che verrà condotta presso il Laboratorio di Fisica e Tecnologia dei Semiconduttori.

Testi Adottati

-Dispense fornite dal docente basate sulle slide presentate a lezione
- Fondamenti di microscopia a scansione di sonda, V. L. Mironov, NT-MDT

Modalità Erogazione

Lezioni teoriche in classe e prove pratiche di laboratorio

Modalità Valutazione

prova finale orale con compilazione di un quaderno di laboratorio

Programma

Durante il corso verranno presentate due tecniche di caratterizzazione delle proprietà superficiali della materia condensata: la Fotoemissione da raggi X e la Microscopia a Forza Atomica. Verrà inizialmente presentata in aula una introduzione teorica alle due tecniche sperimentali. Le lezioni frontali avranno come tema: microscopia ottica e microscopia a sonda; STM; AFM in contatto; AFM in non contatto; tecniche SPM secondarie; risoluzione e artefatti; analisi immagini SPM; vuoto e superfici; fondamenti di spettroscopia a raggi X; il modello a tre passi; sorgenti x; analizzatori di elettroni; rivelazione di elettroni; acquisizione ed analisi dati XPS. Successivamente verrà svolta l'attività di laboratorio vera e propria, che verrà condotta presso il Laboratorio di Fisica e Tecnologia dei Semiconduttori.

Testi Adottati

-Dispense fornite dal docente basate sulle slide presentate a lezione
- Fondamenti di microscopia a scansione di sonda, V. L. Mironov, NT-MDT

Modalità Erogazione

Lezioni teoriche in classe e prove pratiche di laboratorio

Modalità Valutazione

prova finale orale con compilazione di un quaderno di laboratorio